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Towards quantitative materials characterization with Digital Pulsed Force Mode imaging

Schimmel, Th.; Walheim, S.; Gigler, A.; Gnahm, C.; Marti, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
DFG Forschungszentrum für funktionelle Nanostrukturen der Universität Karlsruhe (TH) (ZFN)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1742-6588
KITopen-ID: 1000012646
Erschienen in Journal of Physics - Conference Series (JPCONF)
Band 61
Seiten 346 - 351
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