Pattern Recognition, Statistical Learning, and Inference - Testing for Image Symmetries - With Application to Confocal Microscopy
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Stochastik (STOCH) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0018-9448 KITopen-ID: 1000013407 |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Information Theory |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 55 |
| Heft | 4 |
| Seiten | 1841-1855 |