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Conductance of gold nanojunctions thinned by electromigration

Hoffmann, R.; Weissenberger, D.; Hawecker, J.; Stöffler, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951
KITopen ID: 1000013753
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 93
Heft 4
Seiten 043118/1 - 3
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