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Conductance of gold nanojunctions thinned by electromigration

Hoffmann, R.; Weissenberger, D.; Hawecker, J.; Stöffler, D.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.2965121
Dimensions
Zitationen: 56
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Physikalisches Institut (PHI)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951, 1077-3118, 1520-8842
KITopen-ID: 1000013753
Erschienen in Applied physics letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 93
Heft 4
Seiten Article: 043118
Nachgewiesen in Dimensions
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