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Short-range electrostatic interactions in atomic resolution scanning force microscopy on the Si(111) 7x7-surface

Lantz, M. A.; Hug, H. J.; Hoffmann, R.; Martin, S.; Baratoff, A.; Güntherodt, H.-J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0163-1829
KITopen ID: 1000013772
Erschienen in Physical Review B
Band 68
Heft 3
Seiten 035324/1 - 7
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