Atomic resolution imaging and force versus distance measurements on NiO (001) using low temperature scanning force microscopy

Hoffmann, R.; Lantz, M. A.; Hug, H. J.; Schendel, P. J. A. v.; Kappenberger, P.; Martin, S.; Baratoff, A.; Güntherodt, H.-J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2003
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0163-1829 KITopen-ID: 1000013774
Erschienen in	Physical Review B
Verlag	American Physical Society (APS)
Band	67
Heft	8
Seiten	085402/1 - 6