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Atomic resolution imaging and force versus distance measurements on NiO (001) using low temperature scanning force microscopy

Hoffmann, R.; Lantz, M. A.; Hug, H. J.; Schendel, P. J. A. v.; Kappenberger, P.; Martin, S.; Baratoff, A.; Güntherodt, H.-J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0163-1829
KITopen ID: 1000013774
Erschienen in Physical Review B
Band 67
Heft 8
Seiten 085402/1 - 6
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