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Atomic resolution imaging and force versus distance measurements on KBr (001) using low temperature scanning force microscopy

Hoffmann, R.; Lantz, M. A.; Hug, H. J.; Schendel, P. J. A. v.; Kappenberger, P.; Martin, S.; Baratoff, A.; Güntherodt, H.-J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0169-4332
KITopen ID: 1000013775
Erschienen in Applied Surface Science
Band 188
Heft 3-4
Seiten 238 - 244
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