Atomic resolution imaging and force versus distance measurements on KBr (001) using low temperature scanning force microscopy

Hoffmann, R.; Lantz, M. A.; Hug, H. J.; Schendel, P. J. A. v.; Kappenberger, P.; Martin, S.; Baratoff, A.; Güntherodt, H.-J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2002
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0169-4332 KITopen-ID: 1000013775
Erschienen in	Applied Surface Science
Verlag	Elsevier
Band	188
Heft	3-4
Seiten	238 - 244