Low temperature scanning force microscopy of the Si(111) 7x7 surface

Hoffmann, R.; Lantz, M. A.; Hug, H. J.; Schendel, P. J. A. v.; Martin, S.; Baratoff, A.; Abdurixit, A.; Güntherodt, H.-J.; Gerber, C. E.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2000
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0031-9007 KITopen-ID: 1000013778
Erschienen in	Physical Review Letters
Verlag	American Physical Society (APS)
Band	84
Heft	12
Seiten	2642 - 2645