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Low temperature scanning force microscopy of the Si(111) 7x7 surface

Hoffmann, R.; Lantz, M. A.; Hug, H. J.; Schendel, P. J. A. v.; Martin, S.; Baratoff, A.; Abdurixit, A.; Güntherodt, H.-J.; Gerber, C. E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0031-9007
KITopen ID: 1000013778
Erschienen in Physical Review Letters
Band 84
Heft 12
Seiten 2642 - 2645
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