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A new approach for using Levy processes for determining high-frequency value-at-risk predictions

Sun, W.; Rachev, S. T.; Fabozzi, F.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Wirtschaftswissenschaften – Institut für Wirtschaftstheorie und Statistik (ETS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1354-7798
KITopen-ID: 1000013846
Erschienen in European Financial Management
Verlag John Wiley and Sons
Band 15
Heft 2
Seiten 340 - 361
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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