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Quality assurance in foundries using automated visual inspection techniques

Beyerer, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000014767
Erschienen in Tagungsband / WFO technical forum "Information technology for foundries", 16 - 17 June 2003, Düsseldorf, Germany; 1 CD-Rom
Verlag Düsseldorf
Seiten 6.2
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