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Analyse von Linientexturen und Anwendungen

Beyerer, J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2005
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000014776
Erschienen in 28. Heidelberger Bildverarbeitungsforum "Automatische visuelle Inspektion komplizierter Oberflächen", 12. Juli 2005, Weinheim; 1 CD-Rom
Verlag AEON Verl.
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