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Oberflächencharakterisierung durch morphologische Filterung

Beyerer, J.; Puente León, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2005
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0171-8096
KITopen ID: 1000014780
Erschienen in tm - Technisches Messen
Band 72
Heft 12
Seiten 663 - 670
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