KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Deflektometrische Untersuchungen mit inversen Mustern

Beyerer, J.; Werling, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2006
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-8322-5419-3
KITopen-ID: 1000014788
Erschienen in XX. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., 5. Oktober bis 7. Oktober 2006, Bayreuth. Hrsg.: G. Fischerauer
Verlag Shaker, Aachen
Seiten 105 - 116
Serie Messtechnik und Sensorik ; 12
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page