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Automatische Inspektion spiegelnder Oberflächen mittels inverser Muster

Beyerer, J.; Werling, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2007
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0171-8096
KITopen-ID: 1000014812
Erschienen in tm - Technisches Messen
Band 74
Heft 4
Seiten 217 - 223
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