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Über die Eindeutigkeit der stereo-regularisierten deflektometrischen Oberflächenrekonstruktion

Beyerer, J.; Balzer, J.; Dibbelt, J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2007
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-18-091981-2
ISSN: 0083-5560
KITopen-ID: 1000014825
Erschienen in Bildverarbeitung in der Mess- und Automatisierungstechnik. Hrsg.: F. Puente-Léon
Verlag VDI Verlag
Seiten 125 - 136
Serie VDI-Berichte ; 1981
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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