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Surface characterization by morphological filtering

Beyerer, J.; Puente León, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik (IFA)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-8322-7270-8
ISSN: 1864-6379
KITopen ID: 1000014934
Erschienen in Reports on Distributed Measurement Systems. Ed.: F. Puente León
Verlag Shaker, Aachen
Seiten 19 - 30
Serie Berichte über verteilte Messsysteme ; 3
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