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Correlation between microstructure and degradation in conductivity for Y2O3-doped ZrO2

Gerthsen, D.; Müller, A.; Weber, A.; Ivers-Tiffée, E.; Butz, B.; Kruse, P.; Störmer, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0167-2738
KITopen-ID: 1000015287
Erschienen in Solid State Ionics
Band 177
Heft 37-38
Seiten 3275 - 3284
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