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Focused ion beam preparation of atom probe specimens containing a single crystallographically well-defined grain boundary

Gerthsen, D.; Pérez-Willard, F.; Wolde-Giorgis, D.; Al-Kassab, T.; Alejandro-López, G.; Mittemeijer, E. J.; Kirchheim, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0968-4328
KITopen ID: 1000015288
Erschienen in Micron
Band 39
Heft 1
Seiten 45 - 52
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