Focused ion beam preparation of atom probe specimens containing a single crystallographically well-defined grain boundary
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0968-4328 KITopen-ID: 1000015288 |
| Erschienen in | Micron |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 39 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 45 - 52 |