Focused ion beam study of shot peening on the structure of normalised perlitic steel
Gerthsen, D.; Pérez-Willard, F.; Hawecker, J.; Wanner, A.
; Okolo, B.
; Okolo, B.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2007 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0924-0136 KITopen-ID: 1000015295 |
| Erschienen in | Journal of Materials Processing Technology |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 183 |
| Heft | 2-3 |
| Seiten | 160 - 164 |