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Conductivity of single ZnO nanorods after Ga-implantation in a focused-ion-beam system

Gerthsen, D.; Weissenberger, D.; Pérez-Willard, F.; Dürrschnabel, M.; Reiser, A.; Prinz, G. M.; Feneberg, M.; Thonke, K.; Sauer, R.


Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951
KITopen-ID: 1000015299
Erschienen in Applied Physics Letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 91
Heft 13
Seiten 132110/1 - 3
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