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Effect of a physical phase plate on contrast transfer in an aberration-corrected transmission electron microscope

Gamm, B.; Schultheiß, K.; Gerthsen, D.; Schröder, R. R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen ID: 1000015305
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 108
Heft 9
Seiten 878 - 884
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