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The structure and optical properties of ZnO nanocrystals embedded in SiO2 fabricated by radio-frequency sputtering

Schneider, R.; Gerthsen, D.; Mayer, G.; Fonin, M.; Rüdiger, U.; Janßen, N.; Bratschitsch, R.


Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1361-6528
KITopen-ID: 1000015314
Erschienen in Nanotechnology
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 20
Heft 7
Seiten 075601/1 - 6
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