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Anodically formed oxide films on niobium: Microstructural and electrical properties

Gerthsen, D.; Störmer, H.; Weber, A. ORCID iD icon; Fischer, V.; Ivers-Tiffée, E.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (IWE)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0955-2219
KITopen-ID: 1000015317
Erschienen in Journal of the European Ceramic Society
Verlag Elsevier
Band 29
Heft 9
Seiten 1743 - 1753
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