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Optical and transport properties of ultrathin NbN films and nanostructures

Schneider, R.; Gerthsen, D.; Ilin, K.; Siegel, M. [u.a.]



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0163-1829
KITopen-ID: 1000015323
Erschienen in Physical Review B
Band 80
Heft 5
Seiten 054510/1 - 10
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