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Optical and transport properties of ultrathin NbN films and nanostructures

Schneider, R. 1; Gerthsen, D. 1; Ilin, K. 2; Siegel, M. 2; [u. a.]
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.80.054510
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Zitationen: 156
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Zitationen: 143
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Zitationen: 149
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 163-1829, 0556-2805
KITopen-ID: 1000015323
Erschienen in Physical review / B
Verlag American Physical Society (APS)
Band 80
Heft 5
Seiten 054510/1 - 10
Nachgewiesen in Dimensions
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