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EELS of Niobium and Stoichiometric Niobium-Oxide Phases-Part I: Plasmon and Near-Edges Fine Structure

Bach, D.; Schneider, R.; Gerthsen, D.; Verbeeck, J.; Sigle, W.


Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276
KITopen-ID: 1000015331
Erschienen in Microscopy and Microanalysis
Verlag Cambridge University Press (CUP)
Band 15
Heft 6
Seiten 505 - 523
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