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Ein System zur hochgenauen polaren Fassadenvermessung

Scherer, M.; Juretzko, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Geodätisches Institut (GIK)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2000
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 3-87919-270-7
KITopen ID: 1000015345
Erschienen in Ingenieurvermessung 2000 - Beiträge / XIII. International Course on Engeneering Surveying. Hrsg.: K. Schnädelbach
Verlag Wittwer, Stuttgart
Band 33
Seiten 400 - 405
Serie Vermessungswesen bei Konrad Wittwer ; 33
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