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Unternehmensindividuelle Stresstests als Konsequenz aus der Finanzmarktkrise

Andrulis, J.; Mitschele, A.; Schmidt, T.; Schlottmann, F.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 1861-9363
KITopen-ID: 1000015818
Erschienen in Risiko-Manager
Verlag Bank-Verlag
Band 10
Seiten 1 - 11
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