Unternehmensindividuelle Stresstests als Konsequenz aus der Finanzmarktkrise

Andrulis, J.; Mitschele, A.; Schmidt, T.; Schlottmann, F.

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2009
Sprache	Deutsch
Identifikator	ISSN: 1861-9363 KITopen-ID: 1000015818
Erschienen in	Risiko-Manager
Verlag	Bank-Verlag
Band	10
Seiten	1 - 11

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seit 11.03.2019