Validierung von Mikrogetrieben - Erhöhte Korrelation zwischen Simulation und Prüfstandsversuch
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-8007-3183-1 KITopen-ID: 1000016018 |
| Erschienen in | Proceedings / Mikrosystemtechnik-Kongress 2009, Berlin, 12. - 14. Oktober 2009 |
| Verlag | VDE Verlag |
| Seiten | 1 CD-Rom |