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Validierung von Mikrogetrieben - Erhöhte Korrelation zwischen Simulation und Prüfstandsversuch

Albers, Albert; Börsting, Peter; Enkler, Hans-Georg; Leslabay, Pablo



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2009
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-8007-3183-1
KITopen-ID: 1000016018
Erschienen in Proceedings / Mikrosystemtechnik-Kongress 2009, Berlin, 12. - 14. Oktober 2009
Verlag VDE-Verl., Berlin
Seiten 1 CD-Rom
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