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Merkmalsextraktion aus Bildserien mittels der Independent Component Analyse

Nachtigall, Luis; Puente-León, Fernando

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2009
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-8322-8491-6
KITopen-ID: 1000016075
Erschienen in XXIII. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., 17. - 19. September 2009, Bremen. Ed.: G. Goch
Verlag Shaker Verlag
Seiten 227 - 239
Serie Messtechnik und Sensorik

Seitenaufrufe: 56
seit 11.03.2019
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