KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Merkmalsextraktion aus Bildserien mittels der Independent Component Analyse

Nachtigall, Luis; Puente-León, Fernando


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2009
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-8322-8491-6
KITopen-ID: 1000016075
Erschienen in XXIII. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., 17. - 19. September 2009, Bremen. Ed.: G. Goch
Verlag Shaker Verlag
Seiten 227 - 239
Serie Messtechnik und Sensorik
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page