| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Bauingenieur-, Geo- und Umweltwissenschaften – Institut für Mineralogie und Geochemie (IMG) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-7354-0764-0 ISSN: 0094-243X KITopen-ID: 1000016254 |
| Erschienen in | Proceedings of the 20th International Congress X-ray Optics and Microanalysis, Karlsruhe, Germany, 15-18 September 2009. Ed.: M. Denecke |
| Verlag | American Institute of Physics (AIP) |
| Seiten | 172 - 180 |
| Serie | AIP Conference Proceedings ; 1221 |