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A Novel Approach to OFDM Radar Processing

Sturm, C.; Pancera, E.; Zwick, T.; Wiesbeck, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-2871-7
KITopen-ID: 1000016406
Erschienen in Radar from science to systems. Proceedings of the IEEE Radar Conference (RadarCon09), Pasadena, California, USA, May 4 -8, 2009
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Serie CD-ROM
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