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Development of Dielectric Properties Measurement for Industrial Materials Using a Rectangular Waveguide

Prastiyanto, D.; Feher, L.; Thumm, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000016423
Erschienen in KIT PhD Symposium, Karlsruhe, Germany, 18 March 2009
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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