A synchrotron tensile test setup for nanocrystalline thin films
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2) Institut für Nanotechnologie (INT) Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0031-8965, 1521-396X, 1862-6300, 1862-6319 KITopen-ID: 1000017065 |
| HGF-Programm | 43.01.05 (POF II, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit |
| Erschienen in | Physica status solidi / A |
| Verlag | John Wiley and Sons |
| Band | 206 |
| Heft | 8 |
| Seiten | 1795-1798 |
| Externe Relationen | Abstract/Volltext |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus OpenAlex Dimensions |