Entwicklung und Anwendung elektrostatischer Phasenplatten in der Transmissionselektronenmikroskopie

In der Transmissionselektronenmikroskopie gibt es Proben, die nur schwachen Kontrast erzeugen. In der vorliegenden Arbeit wurden Phasenplatten entwickelt, die durch elektrostatische Potentiale eine Kontrastverbesserung ermöglichen. Die Anwendung der Phasenplatten wurde anhand verschiedender Proben und Mikroskopparameter untersucht. Mithilfe der so gewonnen Aufnahmen wird es ermöglicht, die komplexe Objektwellenfunktion zu rekonstruieren und damit wichtige Eigenschaften der Probe zu bestimmen.