Aspect Mining Using Event Traces
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2004 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 0-7695-2131-2 KITopen-ID: 1000017592 |
| Erschienen in | Proceedings of the 19th IEEE international conference on Automated software engineering, September 20 - 24, 2004 |
| Verlag | IEEE Computer Society |
| Seiten | 310 - 315 |