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Aspect Mining Using Event Traces

Breu, Silvia; Krinke, Jens



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0-7695-2131-2
KITopen ID: 1000017592
Erschienen in Proceedings of the 19th IEEE international conference on Automated software engineering, September 20 - 24, 2004
Verlag IEEE Computer Society, Washington (DC)
Seiten 310 - 315
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