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New laser apparatus to measure oscillation amplitude down to picometer at megahertz frequencies

Zhang, F. Z.; Walheim, S.; Schimmel, T.; Marti, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0034-6748, 1089-7623
KITopen-ID: 1000017790
HGF-Programm 43.11.03 (POF II, LK 01)
Erschienen in Review of scientific instruments
Band 81
Heft 3
Seiten Art.Nr. 035116
Nachgewiesen in Web of Science
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