Towards a quantitative concentration analysis in InGaAs heterostructures using HAADF-STEM

Schaadt, D. M.; Mehrtens, T.; Müller, K.; Schowalter, M.; Neugebohrn, N.; Rosenauer, A.; Hu, D. Z.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2009
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-3-85125-062-6 KITopen-ID: 1000017794
Erschienen in	MC 2009 - Proceedings of the Microscopy Conference, Graz, Austria, 30 August - 4 September 2009; Vol. 1. Ed.: G. Kothleitner
Verlag	Verl. der Techn. Univ.
Seiten	219 - 220