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Sublattice identification in scanning force microscopy of the NaCl(001)surface

Hoffmann, R.; Weiner, D.; Schirmeisen, A.; Foster, A. S.


Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen-ID: 1000017815
Erschienen in Physical Review B
Verlag American Physical Society (APS)
Band 80
Heft 11
Seiten 115426/1 - 8
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