Independent component analysis of image series for defect detection in textured surfaces
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-86644-490-4 ISSN: 1610-9406 urn:nbn:de:swb:90-178899 KITopen-ID: 1000017889 |
| Erschienen in | Reports on industrial information technology. Vol. 12. Ed.: F. Puente León |
| Verlag | KIT Scientific Publishing |
| Seiten | 35 - 56 |
| Serie | Reports on industrial information technology ; 12 |
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