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Independent component analysis of image series for defect detection in textured surfaces

Nachtigall, L.; Puente León, F.; Pérez Grassi, A.

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Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000016446
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-86644-490-4
ISSN: 1610-9406
urn:nbn:de:swb:90-178899
KITopen-ID: 1000017889
Erschienen in Reports on industrial information technology. Vol. 12. Ed.: F. Puente León
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Seiten 35 - 56
Serie Reports on industrial information technology ; 12
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