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Robustness testing of an FSK PLC physical layer implementation by means of a channel emulator

Bauer, M.; Liu, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-86644-490-4
ISSN: 1610-9406
URN: urn:nbn:de:swb:90-178934
KITopen-ID: 1000017893
Erschienen in Reports on industrial information technology. Vol. 12. Ed.: F. Puente León
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Seiten 113 - 128
Serie Reports on industrial information technology ; 12
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