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Investigation of the formation of ultra thin siloxane films on functionlized Germanium crystals by FTIR ATR spectroscopy

Glowacky, J.; Heißler, S.; Leiste, H.; Faubel, W.; Gerdes, A.; Nüesch, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Massivbau und Baustofftechnologie (IMB)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0924-2031
KITopen-ID: 1000018214
Erschienen in A collection of papers presented at the 4th International Conference on Advanced Vibrational Spectroscopy (ICAVS-4): Corfu, Greece, 10 - 15 June 2007. Ed.: V. Gregoriou
Verlag Elsevier, Amsterdam
Seiten 188
Serie Vibrational spectroscopy
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