Investigation of the formation of ultra thin siloxane films on functionlized Germanium crystals by FTIR ATR spectroscopy

Glowacky, J.; Heißler, S.; Leiste, H.; Faubel, W.; Gerdes, A.; Nüesch, R.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Massivbau und Baustofftechnologie (IMB)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2007
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0924-2031 KITopen-ID: 1000018214
Erschienen in	A collection of papers presented at the 4th International Conference on Advanced Vibrational Spectroscopy (ICAVS-4): Corfu, Greece, 10 - 15 June 2007. Ed.: V. Gregoriou
Verlag	Elsevier
Seiten	188
Serie	Vibrational spectroscopy