KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Influence of the phase diagram on the diffuse interface thickness and on the microstructure formation in a phase-field model for binary alloy

Selzer, M.; Nestler, Britta; Danilov, D.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.matcom.2010.01.004
Scopus
Zitationen: 2
Web of Science
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0378-4754, 1872-7166
KITopen-ID: 1000018579
Erschienen in Mathematics and computers in simulation
Band 80
Heft 7
Seiten 1428-1437
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page