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Influence of the phase diagram on the diffuse interface thickness and on the microstructure formation in a phase-field model for binary alloy

Selzer, M. ORCID iD icon; Nestler, Britta; Danilov, D.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.matcom.2010.01.004
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Zitationen: 3
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Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau – Institut für Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0378-4754, 1872-7166
KITopen-ID: 1000018579
Erschienen in Mathematics and computers in simulation
Verlag Elsevier
Band 80
Heft 7
Seiten 1428-1437
Nachgewiesen in Web of Science
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