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Deflectometric measurement of specular surfaces

Puente León, F.; Kammel, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0018-9456
KITopen ID: 1000019208
Erschienen in IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
Band 57
Heft 4
Seiten 763 - 769
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