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A Bayesian approach to information fusion for sensor networks

Puente León, F.; Sommer, K.-D.; Tischler, K.; Kammel, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 1-584-64058-8
KITopen ID: 1000019310
Erschienen in Proceedings of the Metrology's impact on business: NCSL International 2008 workshop & symposium, Orlando, Forida, August 3 - 7, 2008
Verlag NCSL International, Boulder (Colo.)
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