A Bayesian approach to information fusion for sensor networks
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 1-584-64058-8 KITopen-ID: 1000019310 |
| Erschienen in | Proceedings of the Metrology's impact on business: NCSL International 2008 workshop & symposium, Orlando, Forida, August 3 - 7, 2008 |
| Verlag | NCSL International |