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Bildgestützte In-situ-Defekterkennung für gepulste Laserschweißprozesse

Dudeck, S.; Puente León, F.; Rieger, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2007
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-18-091981-2
ISSN: 0083-5560
KITopen-ID: 1000019316
Erschienen in Vortrag / Bildverarbeitung in der Mess- und Automatisierungstechnik, Tagung Regensburg, 27. und 28. November 2007
Verlag VDI Verlag, Düsseldorf
Seiten 159 - 168
Serie VDI-Berichte ; 1981
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