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Performance analysis of coded OFDM systems at statistically representative PLC channels

Babic, M.; Kistner, T.; Bausch, J.; Dostert, K.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 1-424-40113-5
KITopen ID: 1000019339
Erschienen in Proccedings of the 2006 IEEE ISPLC: IEEE International Symposium on Power Line Communications and its Applications, Orlando, Florida, 26 - 29 March 2006
Verlag IEEE Operations Center, Piscataway (NJ)
Seiten 104 - 109
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