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Reflection-based surface segmentation using active illumination

Lindner, C.; Puente León, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0-7803-9359-7
KITopen ID: 1000019354
Erschienen in Proceedings of the IMTC 2006, IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference proceedings, Sorrento, Italy, 24 - 27 April 2006
Verlag IEEE Operations Center, Piscataway (NJ)
Seiten 157 - 162
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