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Illumination-based segmentation of structured surfaces in automated visual inspection

Lindner, C.; Puente León, F.; Arigita, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0-8194-5856-2
KITopen ID: 1000019412
Erschienen in Optical measurement systems for industrial inspection IV, 13 - 17 June 2005, Munich, Germany, Pt. 1. Ed.: W. Osten
Verlag SPIE, Bellingham (Wash.)
Seiten 99 - 108
Serie Proceedings of SPIE ; 5856
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