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An objective measure of the quality of honed surfaces

Puente León, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0-8194-5856-2
KITopen ID: 1000019415
Erschienen in Optical measurement systems for industrial inspection IV, 13 - 17 June 2005, Munich, Germany, Pt. 1. Hrsg.: W. Osten
Verlag SPIE, Bellingham (Wash.)
Seiten 287 - 295
Serie Proceedings of SPIE ; 5856
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