An objective measure of the quality of honed surfaces
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2005 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 0-8194-5856-2 KITopen-ID: 1000019415 |
| Erschienen in | Optical measurement systems for industrial inspection IV, 13 - 17 June 2005, Munich, Germany, Pt. 1. Hrsg.: W. Osten |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Seiten | 287 - 295 |
| Serie | Proceedings of SPIE ; 5856 |