N-lambda speckle-interferometry for contouring in industrial applications
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2004 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000019420 |
| Erschienen in | Proceedings of the Photonics Europe 2004, metrology, sensing, and biophotonics, 26 - 30 April 2004, Strasbourg, France |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Seiten | CD-ROM |
| Serie | Proceedings of SPIE |