N-lambda speckle-interferometry for contouring in industrial applications

Bachfischer, K.; Purde, A.; Meixner, A.; Zeh, T.; Kirilenko, P.; Koch, A. W.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2004
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000019420
Erschienen in	Proceedings of the Photonics Europe 2004, metrology, sensing, and biophotonics, 26 - 30 April 2004, Strasbourg, France
Verlag	Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Seiten	CD-ROM
Serie	Proceedings of SPIE