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N-lambda speckle-interferometry for contouring in industrial applications

Bachfischer, K.; Purde, A.; Meixner, A.; Zeh, T.; Kirilenko, P.; Koch, A. W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000019420
Erschienen in Proceedings of the Photonics Europe 2004, metrology, sensing, and biophotonics, 26 - 30 April 2004, Strasbourg, France
Verlag SPIE, Bellingham (Wash.)
Seiten CD-ROM
Serie Proceedings of SPIE
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