Recent developments in surface contouring by means of speckle interferometry

Bachfischer, K.; Purde, A.; Meixner, A.; Zeh, T.; Koch, A. W.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2004
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 3-18-091844-6 ISSN: 0083-5560 KITopen-ID: 1000019422
Erschienen in	Proceedings of the Photonics in measurement, international symposium, Frankfurt, 23/24 June 2004
Verlag	VDI Verlag
Seiten	413 - 423
Serie	VDI-Berichte ; 1844