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Recent developments in surface contouring by means of speckle interferometry

Bachfischer, K.; Purde, A.; Meixner, A.; Zeh, T.; Koch, A. W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 3-18-091844-6
ISSN: 0083-5560
KITopen ID: 1000019422
Erschienen in Proceedings of the Photonics in measurement, international symposium, Frankfurt, 23/24 June 2004
Verlag VDI-Verl., Düsseldorf
Seiten 413 - 423
Serie VDI-Berichte ; 1844
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